주문형 메인보드 개발 서비스

엠티스는 x86 Platform의 다양의 주문형 산업용 컴퓨터 메인보드를 개발합니다.

신뢰성 시험 주요 보유 장비

엠티스는 고객에게 보다 신뢰성 높은 제품을 공급 하고자 자제적인 신뢰성 시험 수행을 위하여 다양한 장비를 보유하고 있습니다.

항온챔버

모델

TH-KE-100

용도

Main Board 및 시스템 온도 내성 시험

• 항온 챔버를 활용하여 -40도 에서 48시간 방치 후 저온 부팅 시험을 수행하여 저온 환경에서의 정상 부팅 및 동작 유무를 시험 합니다.
• 고온 60 ~ 80도 습도 90% 에서의 메인 보드 및 시스템의 정상 동작 유무를 시험 합니다.

규격

-40 ~ 150도 시험 가능

활용 예

• 저온 부팅 시험
• 고온/고습 동작 시험

ESD Simulator

모델

NOISEKEN ESS-S3011A

용도

정전기 방전 시뮬레이터. 메인보드 및 시스템의 ESD 시험

규격

출력전압

• 0.2 ~ 30.0kV +/- 5 % (최대 30.5kV)
• 0.2 to 10kV: 0.05V step, 10.0 to 30.0kV: 0.1kV step 0.2~10kV : 0.05V 스텝, 10.0~30.0kV : 0.1kV 스텝

IED 표준 테스트 모드

• Contact discharge mode: 2.0, 4.0, 6.0, 8.0 kV step
• Air discharge mode: 2.0, 4.0, 8.0, 15.0 kV step

열화상 카메라 & 클로즈 업 렌즈

모델

FLIR T-420 & 2 x Close-Up Lense

용도

Main Board 및 시스템의 발열 분석

• 메인보드 기판을 설계할 때에는 회로의 성능과 비용에 영향을 주지 않고 열을 발산시킬 수 있도록 하여야 합니다.
• 적외선 서모그래피 기술의 발달에 의하여 설계 개발하려는 보드 형상 및 부품 배치에 의한 열 패턴을 쉽게 눈으로 보고 계량화 할 수 있습니다.
• 메인보드 개발 단계에서 일반적인 동작 기능 시험 외 신뢰성 학보 차원에서 장시간 사용시 부품의 발열 상태를 확인하고 발열에 의한 부품 노후화로 발생하는 오류을 최소화 하여 장시간의 MTBF 를 달성 합니다

규격

온도측정범위 -20 ~ 650도(정확도 ±2도)

Long Run Aging Test (Programmable Auto Power On/Off Test)

엠티스 자체 개발 Long Run Aging System (Programmable Auto Power On/Off Hardware & Software)

용도

개발 제품의 Long Run Test & Power On/Off 시험.

구성

자체 개발한 Long Run Aging System(Hardware) + 네트워크로 연결되는 별도의 PC에서 운영되는 운영 소프트웨어 + 시험 장비에서 각 개별 장비에 설치되는 카운터 프로그램이 한조의 구성으로 이루어짐

• 운영 소프트웨에서는 총 5단계의 가변적인 Power On/Off 시간 조건과 시험 회수를 설정(셋팅)하여 온/오프 테스트 수행함
• 시험용 장비에 설치된 카운터 프로그램으로 운영 소프트웨어에서 설정한 시험 횟수와 시험장비에서의 정상적인 부팅이 이루어진 카운터를 비교 확인함.
• 본 장비는 일반적인 수동식/기계식의 Power On/Off 의 경우 3분, 5분 또는 10분 등 한가지의 정해진 시간 조건으로만 반복적인 시험을 할 수 있으나 본 장비는 5단계의 가변적인 시간 셋팅이 가능하여 5단계로 각기 다른 시간 조건으로 반복 시험이 가능하며, 개발보드의 수명 예측을 위한 장시간이 소요되는 시험시 매번 부팅이 정상적으로 하고 있는지 계속 적인 관찰이 필요 없이 최종 카운터만 확인하면 됨.
• Power On/Off는 한 개의 운영 소프트웨어에서 8대의 장비를 테스트 할 수 있으며 Test System의 증설 구성에 따라 16대, 24대, 32대, 40대 등 8대 단위로 계속적인 증설이 가능함.

활용 예